リーク電流

読み方、または別称:りーくでんりゅう

リーク電流(leakage current)とは、電子回路上や半導体素子内において、本来電流が流れるはずのない絶縁等された場所でが流れ出してしまう電流のことである。

リーク電流が発生する原因のひとつは、回路上での絶縁の不良や、半導体結晶の不良である。さらに、近年問題になっている原因として、半導体素子内で起こるトンネル効果がある。

絶縁されている箇所でも量子力学的にみると、トンネル効果によって電気が多少は流れている。障壁となる絶縁体の厚さが薄くなるほど、トンネル効果が現れやすい。そのため、半導体素子においては、高集積化、超微細化が進むほど、トンネル効果が現れやすくなる。

リーク電流の発生は、誤作動の原因ともなり、また、無駄な消費電力の発生、発熱、素子の劣化にもつながる。このため、リーク電流を低減させるための研究が進められている。

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