基盤技術 の リーク電流に関する解説。

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リーク電流

読み方、または別称:りーくでんりゅう

リーク電流(leak current)とは、電子回路上で、絶縁されているなど本来流れるはずがない場所で電流が流れ出してしまう現象のことである。
絶縁体は電気の流れを止めているように見えるが、原子レベルのサイズで見たとき、本来電流が流れない絶縁体も量子論的効果によって電気が多少は流れている。
初期の半導体においては、技術レベルが未成熟なこともあり、結晶や絶縁膜の欠陥によってリーク電流が発生していたが、現在は近年の回路の高集積化によって発生している。
リーク電流が発生する原因はいろいろと考えられるが、ごく薄い絶縁層の間を電子が通り抜けてしまう現象である「量子トンネル効果によるリーク電流」であるケースが多い。
リーク電流が大きくなると消費電力は大きくなり、それに合わせて発熱量が増加するため、回路を傷めてしまう場合があり、近年の回路の高集積化によって、リーク電流の問題は無視できなくなっており、半導体の集積度を高めて性能を向上させるには、リーク電流への対応技術が不可欠なために研究が行われている。

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